H373 : Risque présumé d'effets graves pour les organes (indiquer tous les organes affectés, s'ils sont connus) à la suite d'expositions répétées ou d'une exposition prolongée (indiquer la voie d'exposition s'il est formellement prouvé qu'aucune autre voie d'exposition ne conduit au même danger) H410 : Très toxique pour les organismes aquatiques, entraîne des effets à long terme
Le nitrure d'aluminium est ainsi l'un des rares matériaux à avoir une bande interdite large et à gap direct d'une part (presque deux fois plus large que celles du SiC et du GaN), et une conductivité thermique élevée d'autre part[15]. Ceci provient de sa faible masse atomique, de ses liaisons interatomiques fortes et de sa structure cristalline simple[16]. C'est ce qui rend ce matériau intéressant pour les applications aux réseaux de télécommunications haut débit à forte puissance, permettant notamment une meilleure dissipation thermique que le nitrure de gallium dans les équipements électroniques de puissance et radiofréquence.
Une autre voie est la nitruration directe. Dans ce cas, de la poudre d'aluminiummétallique ou d'Al2O3 est mise à réagir avec de l'N2 ou de l'NH3 pour former de l'AIN à des températures supérieures à 900 °C :
Le nitrure d'aluminium en poudre est très sensible à l'hydrolyse. Dans l'eau, on peut observer une hydrolyse incomplète du nitrure d'aluminium en hydroxyde d'aluminium Al(OH)3 et ammoniac NH3. Le nitrure d'aluminium fritté massif n'est pas sensible à l'hydrolyse. L'hydroxyde de sodium NaOH décompose en revanche AlN fritté ou en poudre pour former de l'ammoniac et un hydrate d'aluminate de sodiumNa[Al(OH)4] :
Le nitrure d'aluminium trouve des applications potentielles en optoélectronique dans le domaine des ultraviolets, comme substrat pour des croissances épitaxiales et en électronique de puissance pour la fabrication de transistors hyperfréquence de puissance.
Actuellement, de nombreuses recherches sont menées pour produire des diodes électroluminescentes (LEDs) à émission UV utilisant du nitrure d'aluminium-gallium. En 2006, des chercheurs du laboratoire « Nippon Telegraph and Telephone » (NTT) au Japon ont rapporté la fabrication de diodes à base de nitrure d'aluminium atteignant des longueurs d'onde de l'ordre de 210 nm[22]. La recherche se poursuit encore autour de ce matériau pour diminuer la longueur d'onde d'émission des LEDs notamment par l'introduction d'AlN sous la forme de nanofils[23].
Le nitrure d'aluminium est aussi utilisé pour ces propriétés piézoélectriques. En effet, du fait de son module d'Young particulièrement élevé, il présente de hautes vitesses d'ondes acoustiques de l'ordre de 10 400 m/s[24]. Cette caractéristique en fait un matériau de choix pour les filtres à onde acoustique de surface de type SAW[25] (pour Surface Acoustic Wave) et les dispositifs à ondes acoustiques de volume de type FBAR[26] (pour Film Bulk Acoustic Wave Resonator).
Notes et références
↑ abc et dEntrée « Aluminium nitride » dans la base de données de produits chimiques GESTIS de la IFA (organisme allemand responsable de la sécurité et de la santé au travail) (allemand, anglais), accès le 12 janvier 2023 (JavaScript nécessaire)
↑ a et b(en) Martin Feneberg, Robert A. R. Leute, Benjamin Neuschl, Klaus Thonke et Matthias Bickermann, « High-excitation and high-resolution photoluminescence spectra of bulk AlN », Physical Review B, vol. 82, no 7, , article no 075208 (DOI10.1103/PhysRevB.82.075208, Bibcode2010PhRvB..82g5208F, lire en ligne).
↑(en) Bodie Eugene Douglas et Shih-Ming Ho, Structure and Chemistry of Crystalline Solids, Pittsburgh, Springer Science + Business Media, Inc, , 346 p. (ISBN978-0-387-26147-8, LCCN2005927929).
↑(en) Zhe Cheng, Yee Rui Koh, Abdullah Mamun, Jingjing Shi, Tingyu Bai, Kenny Huynh, Luke Yates, Zeyu Liu, Ruiyang Li, Eungkyu Lee, Michael E. Liao, Yekan Wang, Hsuan Ming Yu, Maki Kushimoto, Tengfei Luo, Mark S. Goorsky, Patrick E. Hopkins, Hiroshi Amano, Asif Khan et Samuel Graham, « Experimental observation of high intrinsic thermal conductivity of AlN », Physical Review Materials, vol. 4, no 4, , article no 044602 (DOI10.1103/PhysRevMaterials.4.044602, Bibcode2020PhRvM...4d4602C, arXiv1911.01595, S2CID207780348, lire en ligne).
↑(en) A. AlShaikhi et G. P. Srivastava, « Thermal conductivity of single crystal and ceramic AlN », Journal of Applied Physics, vol. 103, no 8, , article no 083554-083554-6 (DOI10.1063/1.2908082, Bibcode2008JAP...103h3554A, lire en ligne).
↑(en) Wu Li et Natalio Mingo, « Thermal conductivity of bulk and nanowire InAs, AlN, and BeO polymorphs from first principles », Journal of Applied Physics, vol. 114, no 18, , article no 183505-183505-4 (DOI10.1063/1.4827419, Bibcode2013JAP...114r3505L, lire en ligne).
↑(en) Marc-Alexandre Dubois et Paul Muralt, « Properties of aluminum nitride thin films for piezoelectric transducers and microwave filter applications », Applied Physics Letters, vol. 74, no 20, , article no 3032 (DOI10.1063/1.124055, Bibcode1999ApPhL..74.3032D, lire en ligne).
↑(en) G. Bu, D. Ciplys et M. Shur, « Electromechanical coupling coefficient for surface acoustic waves in single-crystal bulk aluminum nitride », Applied Physics Letters, vol. 84, no 23, , article no 4611 (DOI10.1063/1.1755843, Bibcode2004ApPhL..84.4611B, lire en ligne).
↑(en) Austin Lee Hickman, Reet Chaudhuri, Samuel James Bader, Kazuki Nomoto, Lei Li, James C. M. Hwang, Huili Grace Xing et Debdeep Jena, « Next generation electronics on the ultrawide-bandgap aluminum nitride platform », Semiconductor Science and Technology, vol. 36, no 4, , article no 044001 (DOI10.1088/1361-6641/abe5fd, Bibcode2021SeScT..36d4001H, S2CID233936255, lire en ligne).
↑(en) Runjie Lily Xu, Miguel Muñoz Rojo, S. M. Islam, Aditya Sood, Bozo Vareskic, Ankita Katre, Natalio Mingo, Kenneth E. Goodson, Huili Grace Xing, Debdeep Jena Eric Pop, « Thermal conductivity of crystalline AlN and the influence of atomic-scale defects », Journal of Applied Physics, vol. 126, no 18, , article no 185105 (DOI10.1063/1.5097172, Bibcode2019JAP...126r5105X, arXiv1904.00345, S2CID90262793, lire en ligne).
↑(en) Satoru Tanaka, R. Scott Kern et Robert F. Davis, « Initial stage of aluminum nitride film growth on 6H‐silicon carbide by plasma‐assisted, gas‐source molecular beam epitaxy », Applied Physics Letters, vol. 66, no 1, , p. 37-39 (DOI10.1063/1.114173, Bibcode1995ApPhL..66...37T, lire en ligne).
↑(en) Mizuho Morita, Norihiko Uesugi, Seiji Isogai, Kazuo Tsubouchi et Nobuo Mikoshiba, « Epitaxial Growth of Aluminum Nitride on Sapphire Using Metalorganic Chemical Vapor Deposition », Japanese Journal of Applied Physics, vol. 20, no 1, , p. 17 (DOI10.1143/JJAP.20.17/meta, Bibcode1981JaJAP..20...17M, lire en ligne).
↑(en) R. D. Vispute, Hong Wu et J. Narayan, « High quality epitaxial aluminum nitride layers on sapphire by pulsed laser deposition », Applied Physics Letters, vol. 67, no 11, , p. 1549-1551 (DOI10.1063/1.114489, Bibcode1995ApPhL..67.1549V, lire en ligne).
↑(en) Yoshitaka Taniyasu, Makoto Kasu et Toshiki Makimoto, « An aluminium nitride light-emitting diode with a wavelength of 210 nanometres », Nature, no 441, , p. 325-328 (lire en ligne)
↑(en) S. Zhao, A. T. Connie et M. H. T. Dastjerdi, « Aluminum nitride nanowire light emitting diodes: Breaking the fundamental bottleneck of deep ultraviolet light », Scientific Reports, no 5, (lire en ligne)
↑Daniel Royer et Eugène Dieulesaint, Ondes élastiques dans les solides Tome 2, Génération, interaction acousto-optique, applications, Paris/Milan/Barcelone, Dunod, , 410 p. (ISBN2-225-83441-5), p34
↑(en) J. K. Liu, « Growth morphology and surface‐acoustic‐wave measurements of AIN films on sapphire », Journal of Applied Physics, no 46, , p. 3703 (lire en ligne)
↑(en) Kuan-Hsun Chiu, « Deposition and characterization of reactive magnetron sputtered aluminum nitride thin films for film bulk acoustic wave resonator », Thin Solid Films, no 515, , p. 4819–4825 (lire en ligne)